Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych : zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość /
Opis
- Tytuł:
- Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych :
- Podtytuł:
- zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość /
- Odpowiedzialność:
- Stanisław Adamczak.
- Adres wydawniczy:
- Warszawa :
- w roku:
- cop. 2023.
- Uwagi:
-
Bibliogr. s. 420-432.
- ISBN:
- 978-83-01-23296-2
- Słowa kluczowe:
Dostępne pozycje
ID
Lokalizacja
Sygnatura
Status
data zwrotu
Akcje
ID: G.65758
Wypożyczalnia Jagiellońska (WY)
Sygnatura: Mechanika.Elektronika.Materiałoznawstwo.ADA
Status:
30 dni
data zwrotu:
Dodatkowe informacje
Pokaż kartę katalogową 🗃️
Pokaż opis MARC 🗄️
Adamczak, Stanisław.
Stanisław Adamczak. Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych : zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość /
Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa : cop. 2023. - [2] k. tab. , 436 s. : il. ; 25 cm.
ISBN 978-83-01-23296-2
Powierzchnie
Metrologia geometryczna
Pomiary
Przyrządy pomiarowe
G.65758
Stanisław Adamczak. Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych : zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość /
Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa : cop. 2023. - [2] k. tab. , 436 s. : il. ; 25 cm.
ISBN 978-83-01-23296-2
Powierzchnie
Metrologia geometryczna
Pomiary
Przyrządy pomiarowe
G.65758
Pokaż opis MARC 🗄️
Format MARC skrót od MAchine-Readable Cataloging) to międzynarodowy standard opisu danych bibliograficznych, który określa, jak zapisać opis bibliograficzny w formacie zrozumiałym zarówno dla ludzi, jak i dla komputerów. Informacje przedstawione w formacie MARC polecamy dla zaawansowanych użytkowników.
005 -DATA I CZAS OSTATNIEJ MODYFIKACJI [,]
-
- @
- pole kontrolne
- 20250226031504.0
040 -Instytucja sporządzająca opis [ , ]
-
- a
- Instytucja, która sporządziła opis (NP)
- KR U
-
- c
- Instytucja, która sporządziła rekord (NP)
- KR U
-
- d
- Instytucja, która zmodyfikowała rekord (P)
- KR U
-
- d
- Instytucja, która zmodyfikowała rekord (P)
- WA N
-
- d
- Instytucja, która zmodyfikowała rekord (P)
- WA M
-
- d
- Instytucja, która zmodyfikowała rekord (P)
- WA N
-
- d
- Instytucja, która zmodyfikowała rekord (P)
- GD U
-
- d
- Instytucja, która zmodyfikowała rekord (P)
- WA CHODKOWSKA
942 -Rodzaj dokumentu [ , ]
-
- c
- Rodzaj dokumentu
- Książka
995 -Działy [ , ]
-
- a
- Działy
- Mechanika.Elektronika.Materiałoznawstwo (MECHANICS.ELECTRONICS. MATERIALS SCIENCE)
999 -Rekord powiązany [ , ]
-
- a
- Nr Libry
- DH
020 -Międzynarodowy znormalizowany numer książki - ISBN [ , ]
-
- q
- Dopowiedzenie
- 9788301232962
100 -Hasło główne - nazwa osobowa [1, ]
-
- a
- Nazwa osobowa (NP)
- Adamczak, Stanisław.
245 -Strefa tytułu i oznaczenia odpowiedzialności [1,0]
-
- a
- Tytuł
- Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych :
-
- b
- Ciąg dalszy tytułu (NP)
- zarysy kształtu, falistość, mikro- i nanochropowatość /
-
- c
- Pozostałe elementy strefy tytułu i oznaczenia odpowiedzialności (NP)
- Stanisław Adamczak.
260 -Strefa adresu wydawniczego [ , ]
-
- a
- Miejsce wydania (P)
- Warszawa :
-
- b
- Nazwa wydawcy (P)
- Wydawnictwo Naukowe PWN,
-
- c
- Data wydania (P)
- cop. 2023.
920 -ISBN [ , ]
-
- a
- ISBN
- 978-83-01-23296-2
300 -Strefa opisu fizycznego [ , ]
-
- a
- Określenie formy książki i/lub objętość (NP)
- [2] k. tab. , 436 s. :
-
- b
- Oznaczenie ilustracji (NP)
- il. ;
-
- c
- Format (NP)
- 25 cm.
710 -Hasło dodatkowe - nazwa ciała zbiorowego [2, ]
-
- a
- Nazwa ciała zbiorowego lub nazwa geograficzna jako pierwszy element (NP)
- Wydawnictwo Naukowe PWN.
-
- 4
- Relator code
- pbl
504 -Uwaga dot. bibliografii załącznikowej [ , ]
-
- a
- Uwaga dot. bibliografii załącznikowej
- Bibliogr. s. 420-432.
692 -Pole lokalne - słowa kluczowe [ , ]
-
- x
- Deskryptor
- Powierzchnie
692 -Pole lokalne - słowa kluczowe [ , ]
-
- x
- Deskryptor
- Metrologia geometryczna
692 -Pole lokalne - słowa kluczowe [ , ]
-
- x
- Deskryptor
- Pomiary
692 -Pole lokalne - słowa kluczowe [ , ]
-
- x
- Deskryptor
- Przyrządy pomiarowe